Микроскопия полного внутреннего отражения (TIRFM)

Микроскопия полного внутреннего отражения (TIRFM) твердо утвердила себя как одна из ключевых техник в исследовании молекулярных взаимодействий в близкой к поверхности области клетки. TIRF микроскопия использует очень тонкий образец до 200 нм толщиной. Он является идеальной методикой для исследования анализа взаимодействия отдельных молекул или мембранных процессов. При выполнении этой задачи луч света направляется под критическим углом на покровное стекло. Из-за более высокого коэффициента преломления покровного стекла по сравнению с образцом возникает общее внутреннее преломление. Это означает, что прямой свет практически не попадает в образец - однако, благодаря физической природе света, в направлении образца излучается так называемая затухающая волна. Эта волна способна возбудить флуорохромы в толщине образца только в пределах нескольких сот нанометров от покровного стекла. Флуресцентное изображение ограничивается этой небольшой глубиной и не подвержено появлению "внефокусного света" (ввиду отсутствия такового из более глубоких слоев образца.)