Микроскоп SU9000 с холодным вольфрамовым катодом разрабатывался для достижения наивысшего разрешения при работе с нанообъектами, и выполнен в «in-lens» дизайне. Электронная оптика SU9000 позволяет получать изображения морфологии поверхности образцов различных материалов, с детализацией вплоть до атомногоо или молекулярного уровня, что далеко превосходит по возможности любой сканирующий микроскоп. Этой модели принадлежит рекордное значение разрешения во вторичных электронах и в режиме работы на просвет. Конструкция интегрированного детектора отраженных и вторичных электроннов позволяет одновременно выводить изображение, исполтьзуя сигналы вторичных и отраженных электронов. STEM-детектор с изменяемым углом сбора электронов дает дополнительные возможности исследователю в формировании и оптимизации изображения.